Inicio Informe técnico Aislamiento corto más rápido con recorridos de reconocimiento LVS en Calibre RVE

Aislamiento corto más rápido con recorridos de reconocimiento LVS en calibre RVE

Aislamiento corto más rápido con recorridos de reconocimiento LVS en calibre RVE

¿Tiene problemas con errores LVS en diseños de SoC complejos?
Los diseños apresurados en nodos de tecnología avanzada a menudo provocan errores de LVS, especialmente redes en cortocircuito, lo que ralentiza la verificación del SoC. Para acelerar la recuperación de LVS, concéntrese en estos pasos:

  • Priorice la resolución de errores críticos para lograr eficiencia
  • Emplee herramientas de depuración avanzadas para detectar redes en cortocircuito de manera temprana
  • Optimice las prácticas de diseño para gestionar la creciente complejidad.

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